球柵陣列(BGA)作為電子封裝技術的一種，具有高密度、高可靠性和優(yōu)良的電性能等特點，廣泛應用于半導體芯片、微電子器件等領域.然而，在BGA的生產和應用過程中，可能會出現(xiàn)各種質量問題，如焊球共面性不良、焊球拉脫力不足等，這些問題會嚴重影響產品的性能和可靠性。因此，對BGA進行嚴格的測試和質量控制至關重要。

測試原理

球柵陣列(BGA)測試原理主要涉及對BGA封裝芯片的焊球共面性和焊球拉脫力進行綜合評估。焊球共面性測試通過測量焊球頂點與基準平面之間的距離差值，確保焊球與基板接觸良好，避免焊接缺陷；而焊球拉脫力測試則通過施加垂直于器件表面的拉力，測量焊球與基板之間的結合強度，以評估焊接質量和可靠性。通過這兩種測試方法，可以全面檢測BGA封裝芯片的質量，確保其在電子設備中的穩(wěn)定性和可靠性，并根據(jù)測試結果進行工藝優(yōu)化、材料控制和設備維護等質量控制措施，提高產品的性能和可靠性。

測試目的

焊球共面性測試的目的是測定BGA焊球的共面度，即焊球頂點與基準平面之間的距離差值.共面度是衡量BGA焊接質量和可靠性的重要指標之一，共面度不良會導致焊接時焊球與基板接觸不良，進而引發(fā)焊接缺陷，如虛焊、短路等，影響電子器件的性能和可靠性.